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測量金屬電阻率實驗報告,無機(jī)物熔點測定
發(fā)布時間: 2024-08-30 07:00 更新時間: 2024-10-28 11:00

測量金屬電阻率實驗報告,無機(jī)物熔點測定
反射率測量的典型系統(tǒng)配置包括光譜儀、軟件、光源、光纖以及采樣附件。
表1 典型系統(tǒng)配置
紫外/可見光波段 | 近紅外波段 | |
光譜儀 | USB系列,HR系列, QE65000, Maya2000 Pro | NIRQUEST |
軟件 | Oceanview 1.6.3 | |
光源 | DH-2000, HL-2000,DT-MINI-2-GS | |
光纖 | UV-VIS XSR Polarization-resistant, UV/SR-VIS High OH content, UV-VIS High OH content, SMA905 接頭 | VIS-NIR Low OH content, SMA 905接頭 |
附件 | 74系列準(zhǔn)直鏡, 采樣平臺Stage-RTL |
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